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金湖塑料材料介电常数测试仪厂家

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金湖塑料材料介电常数测试仪厂家

发布用户:Bgjy 时间:2021-10-25 18:41

金湖塑料材料介电常数测试仪厂家

电气测量按本标准或所使用的仪器(电桥)制造商推荐的标准及相应的方法进行。

其内部会有发热现象,这说明有部分电能已转化为热能耗散掉,电介质在电场作用下,在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率,或简称介质损耗(diclectric loss)。概念:电介质在外电场作用下介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之介质损耗不但消耗了电能。

金湖塑料材料介电常数测试仪厂家

技术参数:Q值测量.Q值测量范围:2~1023。

Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

标称误差

     频率范围(100kHz~10MHz):  频率范围(10MHz~160MHz):

     固有误差:≤5%±满度值的2%  固有误差:≤6%±满度值的2%

     工作误差:≤7%±满度值的2%  工作误差:≤8%±满度值的2%

电感测量范围:4.5nH~7.9mH电容测量:1~205

 主电容调节范围:18~220pF

 准确度:150pF以下±1.5pF;  150pF以上±1%

 注:大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明

 信号源频率覆盖范围频率范围CH1:0.1~0.999999MHz, CH2:  1~9.99999MHz,

     CH3:10~99.9999MHz, CH1  :100~160MHz,

Q合格指示预置功能:      预置范围:5~1000。

正常工作条件 环境温度:0℃~+40℃;相对湿度:<80%;电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

其他消耗功率:约25W;净重:约7kg;外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

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可选购与计算机通信应用程序。

试样条件处理的方法和处理时间,电极装置类型,若有加在试样上的电极应注明其类型,测量仪器。

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

主机:谐振点电容搜索/数字6按键,按此键后,电容指示不断在变化,步进马达发出轻微的声响时仪器正工作在电容自动搜索被测量器件的谐振点,如需退出搜索,再按此键。先按12键后有效主机:数字6按键先按12键后,再按此键,功能为数字。

谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量,常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不的,叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。

按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时,表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点,如需退出搜索,再按此键,先按12键后,再按此键,功能为数字谐振点频率搜索/数字5按键。

应地测量厚度,使偏差在士(2%士。.005 mm)以内,测量点应均匀地分布在试样表面。必要时,应测其有效面积。

因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时,链段上的偶极的极化有时完全被抑制,介电性能可降至 低值,同样的道理。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外,高聚物中的增塑利,杂质等对介电性能也有很大景响。

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对于介质损耗因数的测量,这种类型的电极在高频下不能满足要求,除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀

因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时,链段上的偶极的极化有时完全被抑制,介电性能可降至 低值,同样的道理。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外,高聚物中的增塑利,杂质等对介电性能也有很大景响。

介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。

DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量,在这个电极系统中,试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。

由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。介质损耗:绝缘材料在电场作用下。

介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。

因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时,链段上的偶极的极化有时完全被抑制,介电性能可降至 低值,同样的道理。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外,高聚物中的增塑利,杂质等对介电性能也有很大景响。

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漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质,在外电场的作用下,总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流,这种微小电流称为漏导电流,漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷,或多或少存在一些带电粒子或空位,因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。

偶极矩在0~0.5D(德拜)范围内的是非极性高聚物,偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗,其介电常数约为介质损耗小于10-4。高频线圈的Q值测量(基本测量法)高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗,并且极性愈大,这两个值愈高。

试样为与试验池电极直径相同的圆片,或对测微计电极来说,试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中,为了忽略边缘效应,试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。

特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。

高频线圈的Q值测量(基本测量法)原始包装:请保留所有的原始包装材料,如果机器回厂维修,请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时,请务必将全部的附件一起送回,请注明故障现象和原因。另外,请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。

Q值量程自动/手动控制方式选择/数字8按键,按此键后,显示屏第四行左部出现对应的指示:AUTO(自动),MAN(手动),先按12键后,再按此键,功能为数字。

试样为与试验池电极直径相同的圆片,或对测微计电极来说,试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中,为了忽略边缘效应,试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。

音频,高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法测试注意事项本仪器应水平安放,如果你需要较地测量,请接通电源后,预热30分钟,调节主调电容或主调电容数码开关时。满足标准:GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频当接近谐振点时请缓调必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫,手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

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介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。

对于介质损耗因数的测量,这种类型的电极在高频下不能满足要求,除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀

主机:谐振点电容搜索/数字6按键,按此键后,电容指示不断在变化,步进马达发出轻微的声响时仪器正工作在电容自动搜索被测量器件的谐振点,如需退出搜索,再按此键。先按12键后有效主机:数字6按键先按12键后,再按此键,功能为数字。

流体排出法在电容率近似等于试样的电容率,而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量,这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时,试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去

介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。

Q值量程递减(手动方式时有效)/数字3按键,先按12键后,再按此键,功能为数字Q值量程递增(手动方式时有效)/数字4按键,先按12键后,再按此键,功能为数字。

调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

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试样上不加电极

Q值量程自动/手动控制方式选择/数字8按键,按此键后,显示屏第四行左部出现对应的指示:AUTO(自动),MAN(手动),先按12键后,再按此键,功能为数字。

电极系统加到试样上的电极电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时,其中一个电极应比另一个电极些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间,这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出.

能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

空气填充测微计电极当试样插人和不插人时,电容都能调节到同一个值 ,不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.

特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。

测量

试验时的温度和相对湿度以及试样的温度,施加的电压,施加的频率,相对电容率ε(平均值)。

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损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小,是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗,希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=(tanδ)-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素,希望它的值要高。

测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下该仪器广泛地用于科研机关,学校,工厂等单位。

表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量,在这个电极系统中,试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。

工作频段选择/数字1按键,每按一次,切换至低一个频段工作,先按12键后,再按此键,功能为数字。

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

工作频段选择/数字1按键,每按一次,切换至低一个频段工作,先按12键后,再按此键,功能为数字。

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

偶极矩在0~0.5D(德拜)范围内的是非极性高聚物,偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗,其介电常数约为介质损耗小于10-4。高频线圈的Q值测量(基本测量法)高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗,并且极性愈大,这两个值愈高。

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条件处理应按相关规范规定进行。

试样条件处理的方法和处理时间,电极装置类型,若有加在试样上的电极应注明其类型,测量仪器。

电气测量按本标准或所使用的仪器(电桥)制造商推荐的标准及相应的方法进行。

工作频段选择/2按键,每按一次,切换至高一个频段工作,先按12键后,再按此键,功能为数字。

可选购与计算机通信应用程序。

工作频段选择/2按键,每按一次,切换至高一个频段工作,先按12键后,再按此键,功能为数字。

流体排出法在电容率近似等于试样的电容率,而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量,这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时,试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去

被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫,手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件。

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介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。

试样为与试验池电极直径相同的圆片,或对测微计电极来说,试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中,为了忽略边缘效应,试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。

由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。介质损耗:绝缘材料在电场作用下。

介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。

按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时,表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点,如需退出搜索,再按此键,先按12键后,再按此键,功能为数字谐振点频率搜索/数字5按键。

试样应从固体材料上截取,为了满足要求,应按相关的标准方法的要求来制备。

DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

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